为准确测试静电放电(ESD)保护器件的性能、解决ESD产生的辐射场及其高频反射对测试结果的影响,本文研制了基于微带设计和电磁场屏蔽理论的专用测试夹具,评价了该夹具的传输特性,建立了由高频脉冲模拟器、专用测试夹具和示波器等组成的测试系统.利用该系统测试了某型号ESD保护器件的限幅响应时间、箝位电压和峰值电流等性能参数.测试结果表明,该测试系统能够满足ESD保护器件性能测试要求,可广泛应用于ESD保护器件设计和优化研究.
[1] Honda M.. A new threat-EMI effect by indirect ESD on electronic equipment [J]. IEEE Transactions on Industry Applications 1989, 5(5).
[2] HOPEWELL N J. Bell labs engineers detect Invisible microcircuit killers [M]. New Jersey:Lucent Technologies, Press Releases 1998.
[3] 刘尚合, 魏光辉, 刘直承. 静电理论与保护 [M]. 北京:兵器工业出版社 1999.
[4] 刘尚合, 武占成, 朱长清. 静电放电与危害防护 [M]. 北京:北京邮电大学出版社 2004.
[5] IEC 61340-3-1, 2006.Methods for simulation of electrostatic effects-human body model[HBM] electrostatic discharge test waveforms [S].