纳米β-SiC薄膜过剩载流子衰减特性分析
韩晓霞,于威,张立,崔双魁,路万兵
Excess Carriers Decay Behavior of Nanocrystalline β-SiC Thin Film
HAN Xiao-xia,YU Wei,ZHANG Li,CUI Shuang-kui,LU Wan-bing
河北大学学报(自然科学版) . 2006, (2): 152 -156 .  DOI: 10.3969/j.issn.1000-1565.2006.02.011