还原增感浓度对AgCl光电子衰减的影响

doi:10.3969/j.issn.1000-1565.2006.02.010

河北大学学报(自然科学版) ›› 2006, Vol. 26 ›› Issue (2): 148-151,156.DOI: 10.3969/j.issn.1000-1565.2006.02.010

还原增感浓度对AgCl光电子衰减的影响

李晓苇,张伟,张继县,张荣香,田晓东,赖伟东

河北大学,物理科学与技术学院,河北,保定,071002

出版日期:2006-03-25 发布日期:2006-03-25
基金资助:
中国科学院资助项目，河北省自然科学基金

Influence of Sensitization Concentration on Photoelectron Decay of AgCl Emulsion

LI Xiao-wei,ZHANG Wei,ZHANG Ji-xian,ZHANG Rong-xiang,TIAN Xiao-dong,LAI Wei-dong

Online:2006-03-25 Published:2006-03-25

摘要/Abstract

摘要： 还原增感是三大化学增感类型之一.近10年来,还原增感的机理以及过程的控制,越来越受到感光科学工作者的关切和注意.主要利用微波介电检测技术,测得自由光电子与浅束缚光电子衰减行为随还原增感浓度的变化.实验发现:还原增感浓度低时,增感中心起空穴陷阱作用;还原增感浓度高时,增感中心起深电子陷阱作用.根据光电子衰减行为随增感浓度的变化得到了最佳增感浓度.

关键词: 还原增感, 微波介电检测, 卤化银, 光电子

中图分类号:

TN201

李晓苇,张伟,张继县,张荣香,田晓东,赖伟东. 还原增感浓度对AgCl光电子衰减的影响[J]. 河北大学学报(自然科学版), 2006, 26(2): 148-151,156.

LI Xiao-wei,ZHANG Wei,ZHANG Ji-xian,ZHANG Rong-xiang,TIAN Xiao-dong,LAI Wei-dong. Influence of Sensitization Concentration on Photoelectron Decay of AgCl Emulsion[J]. Journal of Hebei University (Natural Science Edition), 2006, 26(2): 148-151,156.

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还原增感浓度对AgCl光电子衰减的影响

Influence of Sensitization Concentration on Photoelectron Decay of AgCl Emulsion

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